分析の目的に合わせた計算モデルを作成し、データの特性を評価します。
近接原子配置の解析
磁性膜の透過電子顕微鏡画像に対して結晶格子の配列を統計的に解析


POINT
人の目では判断が難しい結晶粒の配置を定量的に評価
数理モデルを用いた界面抽出
トランジスタのゲート酸化膜の材質界面を統計的な数理モデルにより検出


POINT
統計的機械学習モデルを構築し材質界面を統計的に推定
分析の目的に合わせた計算モデルを作成し、データの特性を評価します。
磁性膜の透過電子顕微鏡画像に対して結晶格子の配列を統計的に解析


人の目では判断が難しい結晶粒の配置を定量的に評価
トランジスタのゲート酸化膜の材質界面を統計的な数理モデルにより検出


統計的機械学習モデルを構築し材質界面を統計的に推定
| 掲載日 | |
|---|---|
| 測定法・加工法 | SEM/SEM-STEM TEM/STEM 計算科学・AI・データ解析 |
| 製品分野 | 酸化物半導体 パワーデバイス 光デバイス LSI・メモリ 電子部品 |
| 分析目的 | 形状評価/膜厚評価/構造評価 |
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