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高純度雰囲気下での前処理・測定

XPS:X線光電子分光法 など

概要

高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。

適用例

  • 半導体電極材料
  • 剥離面において、酸化の影響を抑えた評価ができます。
  • 有機EL材料
  • 開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。
  • 電池材料
    Ar雰囲気下で取り扱うことで、変質しやすいLi等も評価が可能です。

データ例

雰囲気制御の有効性を切削加工後のCu表面の酸化膜厚(XPS分析)で評価しました。

CuのXPSスペクトル

装置までの移動方法とCu酸化膜厚(nm)の比較

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MST技術資料No. B0110
掲載日
測定法・加工法 [XPS]X線光電子分光法
 大気非暴露
製品分野 LSI・メモリ
電子部品
二次電池
ディスプレイ
分析目的 化学結合状態評価/膜厚評価

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