局所熱分析システム （Nanoscale Thermal Analysis ）
nanoTA 測定原理
試料表面の局所における、熱特性（ガラス転移,軟化温度,融解温度,膨張傾向）を測定する熱分析法です。試料表面に接地するプローブを加熱し、試料表面の温度を変化させます。図中では①昇温時試料膨張がはじまり、②転移温度に到達するまでDeflectionが変化、③転移温度後変化した試料へプローブの侵入を示しております。温度変化時のDeflectionをモニタリングし、測定点ごとに転移温度をマッピングデータを取得することも可能です。
分析事例
ポリカプトラクトン(PCL)/ポリスチレン(PS)のコンポジット薄膜の転移温度マッピング評価
PS/PCL コンポジット薄膜の転移温度解析
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Point・転移温度マッピング →試料面内の均一性・局在性の有無 を確認可能 ・転移温度解析(Deflection curve) →各測定点における 転移温度・軟化の挙動を解析可能 昇温速度：5～500℃/秒で選択可 |
