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リートベルト解析(Rietveld analysis)とは

XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます

リートベルト解析の概要

リートベルト解析とはXRD(X線回折法)や中性子線回折法の測定データを解析する手法の一種です。
既存手法による格子定数・空間群などの同定に加え、試料の結晶構造モデル(候補)がある場合は
単位格子内部の原子配置など、より詳細な結晶構造情報を得ることが可能です。

リートベルト解析の特徴

どの様な試料が解析可能か?

  • 結晶試料(非晶質は不可)
  • 粒径1~5μm以下の粉末試料
  • 試料の結晶構造モデル(候補を含む)がある

どの様な物性情報が得られるか?

  • 物理反応・化学反応の前後における結晶構造の変化
  • 構造欠陥(置換・欠損)による結晶構造の変化
  • 既存手法では困難な、分子/結晶構造が互いに類似する多相試料の同定
  • 結晶相の数が多く、解析が困難な多相試料の同定

リートベルト解析実行例

①結晶の構造モデルを作成

Al2O3

Al2O3

+

ZnO

ZnO

=

混合粉末試料(質量比は不明)

混合粉末試料
矢印
座標
矢印

②結晶構造モデルから
回折パターンを計算

回折パターン
回折パターン

③計算値と測定値の差分の総和が
最小となる様にパラメータを精密化

パラメータ

2θ(°)
赤色点:XRDによる測定値/青色線:リートベルト解析による計算値/緑色線:測定値と計算値の差分

構造モデルのパラメータ

試料/単位格子の辺辺長[Å]質量比[%]
Al2O3a,b4.75950.56
c12.99
ZnOa,b3.25049.44
c5.206

※結晶構造図はVESTAを利用(https://jp-minerals.org/vesta/jp/)

Point Icon POINT

XRD等の測定データにリートベルト解析を行うことで
結晶内部の詳細な構造を評価出来ます

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MST技術資料No. B0277
掲載日
測定法・加工法 [XRD]X線回折法
計算科学・AI・データ解析
製品分野 パワーデバイス
二次電池
酸化物半導体
医薬品
化粧品
分析目的 化学結合状態評価/構造評価/応力・歪み評価

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