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レーザー顕微鏡による表面形状評価

レーザー顕微鏡

レーザー顕微鏡測定(スペック)

測定原理 : ピンホール共焦点光学系、フォーカスバリエーション

       特徴:対物レンズの合焦位置以外からの光を除去できる

総合倍率 : ~28,800倍

高さ測定 : 分解能 0.5nm

       測定精度 0.2+L / 100 μm 以下(20倍以上のレンズを使用した場合)
       ※L : 測定視野領域幅
       測定可能最大高低差:±3.5mm

幅測定  : 分解能 1nm

       測定精度 測定値の±2%以内(20倍以上のレンズを使用した場合)

最大積載量: 3 kg

       測定視野 : 最小 11 ×8.3 μm ~ 最大 7398 × 5545 μm

分析事例:IC チップの素子形状評価(データ)

評価サンプル及び観察データ 

解析一例(断面解析,面粗さ解析)

Point Icon POINT

高さ情報を取得し、3次元で可視化可能
指定の断面及び領域で各種解析可能

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MST技術資料No. B0283
掲載日
測定法・加工法 その他
製品分野 LSI・メモリ
分析目的 形状評価

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