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化合物へテロ接合界面歪の可視化

FFTM法による格子像解析

概要

Fast Fourier Transform Mapping法は、高分解能TEM像をフーリエ変換し、FFTパターンのスポット位置から結晶の微小な格子歪みを解析、可視化する方法です。FFTM解析により、(1)画像のx, y方向の格子歪みの解析、(2)結晶面方向の格子歪みの解析、(3)結晶面間隔分布、結晶面方位分布の解析、(4)データ分布のヒストグラム表示、(5)空間分解能5nmで0.5%の歪の検出、が可能です。
化合物ヘテロ接合多層膜試料に適用した例を示します。

データ

サンプルご提供:東京大学 霜垣 幸浩先生

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MST技術資料No. C0010
掲載日
測定法・加工法 [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
製品分野 光デバイス
照明
分析目的 構造評価/応力・歪み評価

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