雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制
概要
有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、通電により輝度が劣化したものと非通電のものの比較を行いました。
その結果、TOF-SIMSのスペトルにはサンプル間で差は見られませんでした。
データ
正イオンイメージ
切削により、目的の層を露出させました。


正イオンスペクトル

有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、通電により輝度が劣化したものと非通電のものの比較を行いました。
その結果、TOF-SIMSのスペトルにはサンプル間で差は見られませんでした。
切削により、目的の層を露出させました。



| MST技術資料No. | C0132 |
|---|---|
| 掲載日 | |
| 測定法・加工法 | [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 |
| 製品分野 | ディスプレイ |
| 分析目的 | 組成評価・同定/化学結合状態評価/製品調査 |
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