ミクロンオーダーで有機金属錯体のイメージ測定が可能です
概要
ポリエチレン表面に分散した青色色素「Cuフタロシアニン」の分布を調べました。
TOF-SIMS分析にて、1μmの色素系有機物の分布を捉えることが可能です。
データ
正イオンイメージ(面分析30μm角) Multi Color Overlay

正イオンサーベイ(定性分析)

ポリエチレン表面に分散した青色色素「Cuフタロシアニン」の分布を調べました。
TOF-SIMS分析にて、1μmの色素系有機物の分布を捉えることが可能です。


| MST技術資料No. | C0138 |
|---|---|
| 掲載日 | |
| 測定法・加工法 | [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 |
| 製品分野 | 太陽電池 ディスプレイ |
| 分析目的 | 組成評価・同定/組成分布評価 |
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