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バイポーラトランジスタの拡散層構造評価

pn判定を含む拡散層の構造を明瞭に観察可能

概要

市販LSI内のNPNバイポーラトランジスタについて全景からエミッタ部の拡大まで詳細に観察が可能です。
エミッタ電極の中心を通る断面を露出させ、AFM観察、SCM測定を行った事例です。
AFM像と重ねることで、配線との位置関係がはっきりします。

データ

測定箇所

測定結果

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MST技術資料No. C0147
掲載日
測定法・加工法 [SCM]走査型静電容量顕微鏡法・[SNDM]走査型非線形誘電率顕微鏡法
製品分野 LSI・メモリ
分析目的 形状評価/製品調査

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