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照明用発光素子の総合評価

LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います

概要

省エネルギー化のキーデバイス照明用LEDについて、市販品を解体し、各材料の組成分析・不具合箇所特定・物理解析・不純物分析など実施します。

データ

蛍光体の分析:断面構造・組成

LEDチップの分析:ドーパント・不純物の濃度分布・断面構造TEM断面・不良箇所の特定

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MST技術資料No. C0160
掲載日
測定法・加工法 [SIMS]二次イオン質量分析法
[SEM]走査電子顕微鏡法
[SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)
[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
[EMS]エミッション顕微鏡法
製品分野 光デバイス
照明
分析目的 組成評価・同定/微量濃度評価/組成分布評価/形状評価/故障解析・不良解析/製品調査

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