LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います
概要
省エネルギー化のキーデバイス照明用LEDについて、市販品を解体し、各材料の組成分析・不具合箇所特定・物理解析・不純物分析など実施します。
データ
蛍光体の分析:断面構造・組成



LEDチップの分析:ドーパント・不純物の濃度分布・断面構造TEM断面・不良箇所の特定

省エネルギー化のキーデバイス照明用LEDについて、市販品を解体し、各材料の組成分析・不具合箇所特定・物理解析・不純物分析など実施します。




| MST技術資料No. | C0160 |
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| 掲載日 | |
| 測定法・加工法 | [SIMS]二次イオン質量分析法 [SEM]走査電子顕微鏡法 [SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM) [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 [EMS]エミッション顕微鏡法 |
| 製品分野 | 光デバイス 照明 |
| 分析目的 | 組成評価・同定/微量濃度評価/組成分布評価/形状評価/故障解析・不良解析/製品調査 |
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