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高分子フィルムの多層構造の解析

GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に可視化

概要

フィルムの機能性は素材・厚み・層構造等で決まることが知られています。
今回は食品用ラップフィルムとして一般的に用いられるポリエチレン系多層フィルムの層構造を評価しました。
FT-IRで主にポリエチレンで構成されていることを確認したフィルムに対し、GCIB(Arクラスター)をスパッタに用い、TOF-SIMSで深さ方向に測定することで、10μmの厚みの中でポリエチレンとナイロン6とが積層されている構造を明瞭に可視化することができました。
※GCIB:Gas Cluster Ion Beam

データ

食品用ラップフィルム

データ例

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MST技術資料No. C0290
掲載日
測定法・加工法 [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製品分野 製造装置・部品
化粧品
日用品
食品
その他
分析目的 組成評価・同定/化学結合状態評価/組成分布評価/製品調査

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