ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能
概要
透過型電子顕微鏡(TEM)はμm~nmオーダーの形態観察・元素分析が可能です。
アイシャドウは固体粒子の集まりなので、粉体分散法による前処理でTEM分析を行いました。
TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。
さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。
データ
分析サンプル

分析箇所

分析結果


透過型電子顕微鏡(TEM)はμm~nmオーダーの形態観察・元素分析が可能です。
アイシャドウは固体粒子の集まりなので、粉体分散法による前処理でTEM分析を行いました。
TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。
さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。




| MST技術資料No. | C0302 |
|---|---|
| 掲載日 | |
| 測定法・加工法 | [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 |
| 製品分野 | 化粧品 |
| 分析目的 | 組成評価・同定/製品調査 |
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