分析の
お問い合わせ

磁気ヘッドMTJ部の構造評価

Csコレクタ付TEMによる高分解能TEM観察

概要

TEMの球面収差を補正したCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。
本事例では市販のハードディスクから磁気ヘッドを取り出し、MTJ:磁気トンネル接合(Magnetic tunneljunction)部の高分解能(HR)-TEM観察を行ったデータを紹介します。
このように金属の極薄膜の多層構造でも明瞭に構造を観察することが可能です。

データ

この分析事例のPDFファイルを開く

MST技術資料No. C0337
掲載日
測定法・加工法 [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
製品分野 電子部品
その他
分析目的 形状評価/膜厚評価/構造評価

Consultation

分析のご相談・
お申し込み

経験豊富な営業担当が、
最適な分析プランを提案します。
分析費用のお見積もりも
お気軽にお問い合わせください。
ご相談・お申し込みは、専用フォーム
またはお電話にて承ります。

03-3749-2525