Csコレクタ付TEMによる高分解能TEM観察
概要
TEMの球面収差を補正したCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。
本事例では市販のハードディスクから磁気ヘッドを取り出し、MTJ:磁気トンネル接合(Magnetic tunneljunction)部の高分解能(HR)-TEM観察を行ったデータを紹介します。
このように金属の極薄膜の多層構造でも明瞭に構造を観察することが可能です。
データ

TEMの球面収差を補正したCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。
本事例では市販のハードディスクから磁気ヘッドを取り出し、MTJ:磁気トンネル接合(Magnetic tunneljunction)部の高分解能(HR)-TEM観察を行ったデータを紹介します。
このように金属の極薄膜の多層構造でも明瞭に構造を観察することが可能です。

| MST技術資料No. | C0337 |
|---|---|
| 掲載日 | |
| 測定法・加工法 | [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 |
| 製品分野 | 電子部品 その他 |
| 分析目的 | 形状評価/膜厚評価/構造評価 |
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