TOF-SIMSを用いることで劣化層の膜厚を評価することが可能
概要
ポリカーボネート(PC)は熱可塑性プラスチックの一種であり、優れた透明性・耐衝撃性・耐熱性などの特長をもち、太陽電池パネル・メガネレンズ･CD・車載部品・医療機器の材料として、幅広く活用されております。今回、スパッタイオンビームにGCIB（Arクラスター）を用いてTOF-SIMS分析を行い、紫外線(UV)照射によるポリカーボネート表面の劣化層の評価を行いました。 ※GCIB：Gas Cluster Ion Beam
データ
ポリカーボネート（PC）に3分・10分・30分の紫外線(UV)処理を行い、表面を劣化させたサンプルを用意しました。ポリカーボネートに由来するフラグメントイオンのデプスプロファイルを図１に示します。 紫外線処理を行ったサンプルでは深さ130nm程度までの領域でイオン強度が減少していました。 これは紫外線処理によってポリカーボネートが分解し、劣化していることを示唆しています。 また、処理時間が長いほど分解が進んでいますが、最大劣化深さは変化しないことが確認されました。 GCIBを用いることで高分子材料における100nm以下の劣化層の厚さを評価することが可能です。
