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ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

概要

パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性(Ga極性とN極性)が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。
本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にGa極性、N極性の様子を明らかにすることができました。

データ

GaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向にGa極性とN極性が存在します(図1)。

HAADF-STEMおよびABF-STEMによるGaNの観察結果(図2,3)。

Gaサイト・Nサイトの位置特定ができました。

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MST技術資料No. C0409
掲載日
測定法・加工法 [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法
製品分野 パワーデバイス
光デバイス
分析目的 形状評価/膜厚評価/構造評価

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