分析の
お問い合わせ

リライト材料の層構造分析

無機・有機成分の層構造解析と分子情報の可視化が可能

概要

情報記録材料であるリライト材料を用いた一般的なポイントカードの断面構造について、各層に分布する材料の分子情報や質量を可視化した事例をご紹介します。
ポイントカードの断面を、TOF-SIMSを用いて分析を行いました。イメージ像により、構成分子や添加剤の存在が確認できました。また、重ね合わせ像によりそれぞれの位置関係が明確となり、構造の把握ができました。

データ

サンプル概要

リライト材料とは?
印字・消去を繰り返せる経済的な情報記録材料です。
感熱紙の原理(ロイコ染料と可逆性顕色剤との相互作用)を応用しており、感光紙・ポイントカード・チケット・無線タグなどの幅広い用途で利用されています。

 

TOF-SIMS 元素・分子イオン情報のイメ-ジ像(350μm角)

●SiC3H9(73.1)
カード表面PDMS

◆印字成分(251.0)
印刷層

■Mg(24.0)

●C4H5O(69.0)
透明保護層
アクリル樹脂

◆Zn(63.9)

◆Zn(63.9)
リライト層

●リライト層成分
(546.4)
リライト層

●C8H5O3(149.0)
基材PET

層構造解析結果

イオンイメージ像の重ね合わせ像

イオンイメージ像の重ね合わせ像
光学顕微写真

光学顕微写真
光学顕微写真の説明

この分析事例のPDFファイルを開く

MST技術資料No. C0419
掲載日
測定法・加工法 [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
製品分野 日用品
分析目的 組成分布評価

Consultation

分析のご相談・
お申し込み

経験豊富な営業担当が、
最適な分析プランを提案します。
分析費用のお見積もりも
お気軽にお問い合わせください。
ご相談・お申し込みは、専用フォーム
またはお電話にて承ります。

03-3749-2525