in-situ XAFSによるRuO₂触媒の化学状態評価

着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能

概要

in-situ XAFSは、試料周りの環境を着目に応じたガス雰囲気・温度に制御した条件下で、試料の化学結合状態・局所原子構造が評価できます。そのため、触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に適しています。本資料では、in-situ XAFSを用いてRuO₂粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで昇温させ、RuO₂の状態変化を捉えた事例をご紹介します。スペクトルの形状から、100℃～200℃の間でRuO₂がRuに還元されることが確認されました。

データ

装置図

石英セル内に設置した試料をガス雰囲気下で高温保持します。

• 使用可能ガス：水素、酸素、窒素、ヘリウム（※ガス濃度の制御も可能です）
• 温度：最大1000℃程度

測定結果

還元雰囲気下での昇温によってRuO₂がRuへ還元されました。

測定条件

試料：RuO₂粉末
ガス雰囲気：H₂ 100%
温度：室温～400℃

※X-ray Absorption Near Edge Structure（X線吸収微細構造）