ppmオーダーの微量金属も評価可能です
概要
各種材料の特性を設計・制御するにあたって、母材に微量含まれている元素の種類や量、またそれらの存在状態を明らかにするのは非常に重要です。このうち元素の種類や量に関してはSIMS(二次イオン質量分析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例としてセラミックス材料に微量含まれるCeの価数を評価した事例をご紹介します。
データ
Ce-LⅢ 端XANES※スペクトル
※X-ray Absorption Near Edge Structure
参考文献： Y. Takahashi et al., Analytica Chｉmica Acta 468 (2002) 345.
適用事例
- 蛍光体材料中のEu,Ceの価数評価
- 半導体中に微量含まれる不純物の存在サイトの特定
- リチウムイオン二次電池材料中、電解液に溶出した微量金属の状態評価
POINT
