数十nmオーダーの狙い精度で数百μm角の断面観察
概要
集積回路、電極やプリント基板、半導体パッケージの電極を電気的に接続する金属製ボンディングは直径数十μm~数百μm程です。Xe-PFIB(Xe-Plasma Focused Ion Beam)では数十nmオーダーで加工位置を狙い、数百μm角の断面を作製できるため、ボンディング中央にて全景を詳細に把握することができます。
データ


集積回路、電極やプリント基板、半導体パッケージの電極を電気的に接続する金属製ボンディングは直径数十μm~数百μm程です。Xe-PFIB(Xe-Plasma Focused Ion Beam)では数十nmオーダーで加工位置を狙い、数百μm角の断面を作製できるため、ボンディング中央にて全景を詳細に把握することができます。


POINT
数十nmの精度で数百μm角の断面加工が可能です
| MST技術資料No. | C0610 |
|---|---|
| 掲載日 | |
| 測定法・加工法 | [SEM]走査電子顕微鏡法 X線CT法 [FIB]集束イオンビーム加工 |
| 製品分野 | LSI・メモリ |
| 分析目的 | 形状評価/構造評価/製品調査 |
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