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Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察

数十nmオーダーの狙い精度で数百μm角の断面観察

概要

集積回路、電極やプリント基板、半導体パッケージの電極を電気的に接続する金属製ボンディングは直径数十μm~数百μm程です。Xe-PFIB(Xe-Plasma Focused Ion Beam)では数十nmオーダーで加工位置を狙い、数百μm角の断面を作製できるため、ボンディング中央にて全景を詳細に把握することができます。

データ

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数十nmの精度で数百μm角の断面加工が可能です

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MST技術資料No. C0610
掲載日
測定法・加工法 [SEM]走査電子顕微鏡法
 X線CT法
[FIB]集束イオンビーム加工
製品分野 LSI・メモリ
分析目的 形状評価/構造評価/製品調査

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