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SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価

規格に則った試験によって不動態膜質に関する評価指標が得られます

概要

ステンレス鋼は、表面に極薄い緻密で安定したCrの酸化被膜(不動態膜)が形成されることで、優れた 耐食性を示します。この不動態膜には、表面敏感な手法であるXPSやAESによる組成、膜厚の評価が 有効です。特にSUS316Lについては国際的な業界団体SEMI*により規格化された不動態膜の試験方法(F60-0306(XPS),F72-0309(AES))が存在します。本資料ではSEMI規格に準拠したXPS分析の評価事例を紹介します。 *SEMI:Semiconductor Equipment and Materials International

データ

SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価 SEMI規格に準拠した ステンレス表面不動態膜の評価 

関連資料:C0003 ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価
     B0211 XPS・AESによる深さ方向分析の比較_A

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SEMI規格に準拠した評価が可能です

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MST技術資料No. C0612
掲載日
測定法・加工法 [AES]オージェ電子分光法
[XPS]X線光電子分光法
 その他
製品分野 製造装置・部品
分析目的 組成評価・同定/化学結合状態評価/組成分布評価/膜厚評価

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