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深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析

様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です

概要

SIMS分析で不純物濃度を求めるためには、分析試料と同じ組成の標準試料を使うことが必要です。紫外LEDやパワーデバイスに使われているAlGaNについて、様々なAl組成のAlGaN標準試料を取りそろえることで、MSTではより精度の高い不純物の定量が可能です。
市販深紫外LEDを解体後、SIMS分析を行い、ドーパントのMgの濃度、及び主成分のAl組成の分布を求めた事例を紹介いたします。

データ

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MST技術資料No. C0692
掲載日
測定法・加工法 [SIMS]二次イオン質量分析法
製品分野 パワーデバイス
光デバイス
照明
ディスプレイ
分析目的 微量濃度評価/製品調査/不純物評価・分布評価

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