統計的手法による画像解析事例
- #測定法・加工法
- #電子顕微鏡観察・分析
- #［SEM］走査電子顕微鏡法
- #［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
- #その他
- #計算科学・AI・データ解析
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #酸化物半導体
- #パワーデバイス
- #光デバイス
- #電子部品
- #分析目的
- #形状評価
- #膜厚評価
- #構造評価
Analysis Examples
分析事例
-
-
真空装置内の汚染分析
- #測定法・加工法
- #質量分析法
- #［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #電子部品
- #製造装置・部品
- #分析目的
- #組成評価・同定
-
分子動力学計算によるGa含有プリカーサーの蒸気圧計算
- #測定法・加工法
- #その他
- #計算科学・AI・データ解析
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #酸化物半導体
- #パワーデバイス
- #製造装置・部品
- #分析目的
- #熱物性評価
-
ウェハ上パーティクルの組成分析
- #測定法・加工法
- #電子顕微鏡観察・分析
- #［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #製造装置・部品
- #分析目的
- #組成評価・同定
- #形状評価
-
分子動力学計算によるa-SiO2(シリカ)膜の HF(フッ酸)エッチングシミュレーション
- #測定法・加工法
- #その他
- #計算科学・AI・データ解析
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #製造装置・部品
- #分析目的
- #組成分布評価
- #膜厚評価
- #構造評価
- #応力・歪み評価
- #その他
-
SiON極薄膜中の成分深さ方向分析
- #測定法・加工法
- #質量分析法
- #［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #分析目的
- #化学結合状態評価
- #組成分布評価
- #その他
-
分子動力学計算によるカーボンナノチューブ(CNT)の機械的特性評価シミュレーション
- #測定法・加工法
- #その他
- #計算科学・AI・データ解析
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #ディスプレイ
- #電池
- #分析目的
- #形状評価
- #応力・歪み評価
-
非接触三次元測定装置によるウェハ反り評価
- #測定法・加工法
- #その他
- #その他
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #パワーデバイス
- #光デバイス
- #分析目的
- #形状評価
-
有限要素法による強誘電体キャパシタ金属(TiN, W, Pt)/HfxZr1-xO2/TiNの応力評価
- #測定法・加工法
- #その他
- #計算科学・AI・データ解析
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #電子部品
- #製造装置・部品
- #分析目的
- #形状評価
- #構造評価
- #応力・歪み評価
-
無アルカリガラス中の金属不純物の定性と定量評価
- #測定法・加工法
- #質量分析法
- #［SIMS］二次イオン質量分析法
- #［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #酸化物半導体
- #電子部品
- #製造装置・部品
- #分析目的
- #微量濃度評価
- #不純物評価・分布評価
-
SIMS分析データの再現性
- #測定法・加工法
- #質量分析法
- #［SIMS］二次イオン質量分析法
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #分析目的
- #微量濃度評価
-
半導体パッケージのはんだ濡れ性試験
- #測定法・加工法
- #信頼性試験
- #恒温恒湿試験
- #はんだ濡れ性試験
- #製品分野
- #エレクトロニクス・工業分野
- #LSI・メモリ
- #パワーデバイス
- #電子部品
- #分析目的
- #劣化調査・信頼性評価