分析事例

［SIMS］二次イオン質量分析法 ［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法 ［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法 ［MALDI-MS］マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 ［IC］イオンクロマトグラフ法 ［TDS］昇温脱離ガス分析法 ［GC/MS］ガスクロマトグラフィー質量分析法 ［HPLC］高速液体クロマトグラフ法 ［LC/MS］液体クロマトグラフィー質量分析法 ［LC/FT-MS］液体クロマトグラフ-フーリエ変換質量分析法 ［GDMS］グロー放電質量分析法

［AES］オージェ電子分光法 ［XPS］X線光電子分光法 ［HAXPES］硬X線光電子分光法 ［UPS］紫外光電子分光法 ［SXES］軟X線発光分光法

［SEM］走査電子顕微鏡法 ［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM） ［EPMA］電子プローブマイクロアナライザー ［FIB-MS］集束イオンビーム質量分析法 ［Slice&View］三次元SEM観察法 ［EBIC］電子線誘起電流 ［EBSD］電子後方散乱回折法 ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法 ［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM） ［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法 ［ED］電子回折法 ［TEM ED-Map］TEM電子回折マッピング法 ［SIM］走査イオン顕微鏡法

［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法 ［O-PTIR］PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法 ［Raman］ラマン分光法

［XRD］X線回折法 ［XRR］X線反射率法 ［SAXS］小角X線散乱法 ［XAFS］X線吸収微細構造解析 ［XRF］蛍光X線分析法

耐候性試験 恒温恒湿試験 TCC試験 熱衝撃試験 振動試験 衝撃試験 接合強度試験 はんだ耐熱性試験 はんだ濡れ性試験 気密性試験 PIND試験 ESD試験 パワーサイクル試験 過渡熱抵抗測定 逆バイアス試験 絶縁破壊試験

［AFM］原子間力顕微鏡法 ［AFM-MA・AFM-DMA］機械特性評価（弾性率測定・動的粘弾性率測定） ［AFM-IR］AFM赤外分光分析 ［SCM］走査型静電容量顕微鏡法・［SNDM］走査型非線形誘電率顕微鏡法 ［SMM］走査型マイクロ波顕微鏡法 ［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法 ［PFM］圧電応答顕微鏡法 [MFM]磁気力顕微鏡法 ［SRA］広がり抵抗測定法

X線CT法 ［C-SAM］超音波顕微鏡法 ［EMS］エミッション顕微鏡法 ［OBIRCH］光ビーム加熱抵抗変動法 ロックイン発熱解析法 ［EBAC］電子ビーム吸収電流法

［NMR］核磁気共鳴分析 ［固体NMR］固体核磁気共鳴法 白色干渉計測法 ［PL］フォトルミネッセンス法 蛍光光度法 蛍光寿命測定 絶対PL量子収率測定 ［UV-Vis］紫外可視分光法 ［RBS］ラザフォード後方散乱分析法 ［TOC］全有機体炭素測定 カールフィッシャー滴定法 ［TG-DTA-MS］示差熱天秤-質量分析法 ［DSC］示差走査熱量測定 マスアレイ法

［FIB］集束イオンビーム加工 電子染色 XeプラズマFIB加工 Arイオンミリング加工 ウルトラミクロトーム加工 ［IP法］イオンポリッシュ法を用いた断面加工 クライオ加工 大気非暴露下での処理 ［SSDP用加工］基板側からの測定用加工 レーザー加工 ウエハアナライザー

その他 計算科学・AI・データ解析 ナノシミュレーション

LSI・メモリ ディスプレイ 酸化物半導体 パワーデバイス 光デバイス 照明 電子部品 製造装置・部品 電池

金属・無機材料 有機材料・化成品 高分子材料

医薬品 化粧品 バイオテクノロジ 日用品 食品 環境

その他 ウイルス対策関連品 アルコール