TOF-SIMS分析事例集 リリースのお知らせ

TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）は、極めて高感度な表面分析技術です。
試料の最表面を詳細に解析できるほか、深さ方向の情報取得にも対応し、材料内部の成分分布の把握も可能です。
加えて、イメージングにより成分の空間分布を視覚化できます。
無機・有機物の両方に対応し、半導体、電池、生体材料、有機材料など多様な分野で活用されています。
本冊子が、皆様の効果的かつ正確な研究開発のお役に立てれば幸いです。

TOF-SIMS 分析事例集