People
人を知る
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前例のないテーマに挑み、日本の最先端技術を支える
S.I. ／ D-SIMS（二次イオン質量分析法）を用いた微量元素解析
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AI×機器分析で、計測データの可能性を引き出す
Y.K. ／ AI技術を用いたデータ解析
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電子顕微鏡で、材料の本質を読み解く
R.K. ／ SEM(走査電子顕微鏡）を用いた形状・構造解析
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分析プロセスを設計し、最適な答えへ導く
O.N. ／ TEM(透過電子顕微鏡)、STEM(走査透過電子顕微鏡)を用いた構造解析
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表面分析で、材料の電子状態に迫る
N.K. ／ SXPS(X線光電子分光法),XAFS(X線吸収微細構造)を用いた化学状態、電子状態解析
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新たな分野に挑み、分析業界の領域を拓く
S.Y. ／ 新規分析事業化チーム
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分析の力で、未来の価値を創り出す
Y.S ／ 新規分析事業化チーム
