分析手法から探す

各分析手法における特徴・原理等の詳細情報を詳しく紹介します。記載の無い手法につきましても、お気軽にお問い合わせください。

• 質量分析法

  • ［LC/MS］液体クロマトグラフィー質量分析法
  • ［TDS］昇温脱離ガス分析法
  • ［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法
  • ［SIMS］二次イオン質量分析法
  • ［GC/MS］ガスクロマトグラフィー質量分析法
  • ［MALDI-MS］ マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法
  • ［GDMS］グロー放電質量分析法
  • ［HPLC］高速液体クロマトグラフ法
  • ［IC］イオンクロマトグラフ法
  • ［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法

• 電子分光法

  • ［HAXPES］硬X線光電子分光法（Ga線）
  • ［AES］オージェ電子分光法
  • ［UPS］紫外光電子分光法
  • ［XPS］X線光電子分光法
  • ［SXES］軟X線発光分光法
  • ［HAXPES］硬X線光電子分光法（Cr線）

• 電子顕微鏡観察・分析

  • ［TEM ED-Map］TEM電子回折マッピング法
  • ［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
  • ［EBAC］電子ビーム吸収電流法
  • ［FIB-MS］集束イオンビーム質量分析法
  • ［SIM］走査イオン顕微鏡法
  • ［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法
  • ［EBSD］電子後方散乱回折法
  • ［ED］電子回折法
  • ［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
  • ［Slice&View］三次元SEM観察法
  • ［EBIC］電子線誘起電流
  • ［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）
  • ［EPMA］電子プローブマイクロアナライザー
  • ［SEM］走査電子顕微鏡法

• 振動分光法

  • ［O-PTIR］PTIR検出方式サブミクロン赤外分光分析法
  • ［Raman］ラマン分光法
  • ［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法

• X線分析法

  • ［XRF］蛍光X線分析法
  • ［XRR］X線反射率法
  • ［XAFS］X線吸収微細構造解析
  • ［XRD］X線回折法
  • ［SAXS］小角X線散乱法

• 走査型プローブ顕微鏡法

  • ［SRA］広がり抵抗測定法
  • ［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法
  • ［AFM-IR］AFM赤外分光分析
  • ［MFM］磁気力顕微鏡法
  • ［AFM-MA・AFM-DMA］機械特性評価(弾性率測定・動的粘弾性率測定)
  • ［SMM］走査型マイクロ波顕微鏡法
  • ［SCM］走査型静電容量顕微鏡法・［SNDM］走査型非線形誘電率顕微鏡法
  • ［AFM］原子間力顕微鏡法

• 非破壊検査・故障解析

  • ロックイン発熱解析法
  • ［C-SAM］超音波顕微鏡法
  • ［OBIRCH］光ビーム加熱抵抗変動法
  • X線CT法
  • ［EMS］エミッション顕微鏡法

• 信頼性試験

  • TCC（急速温度変化）試験
  • はんだ濡れ性試験
  • 衝撃試験
  • ESD試験
  • 逆バイアス試験
  • 過渡熱抵抗測定
  • PIND試験
  • はんだ耐熱性試験
  • 振動試験
  • 恒温恒湿試験
  • 絶縁破壊試験
  • パワーサイクル試験
  • 気密性試験
  • 接合強度試験
  • 熱衝撃試験
  • 耐候性試験

• そのほかの測定法

  • ［NMR］核磁気共鳴分析
  • 白色干渉計測法
  • 蛍光寿命測定
  • ［RBS］ラザフォード後方散乱分析法
  • ［TG-DTA］熱重量示差熱分析・［TG-DTA-MS］示差熱天秤-質量分析法
  • マスアレイ法
  • カールフィッシャー滴定法
  • ［UV-Vis］紫外可視分光法
  • 蛍光光度法
  • ［固体NMR］固体核磁気共鳴法
  • ［DSC］示差走査熱量測定
  • ［TOC］全有機体炭素測定
  • 絶対PL量子収率測定
  • ［PL］フォトルミネッセンス法

• 加工法・処理法

  • ［FIB］集束イオンビーム加工
  • Arイオンミリング加工
  • クライオ加工
  • レーザー加工
  • ［SSDP用加工］基板側からの測定用加工
  • ［IP法］Arイオン研磨加工
  • 大気非暴露下での処理
  • ウルトラミクロトーム加工
  • 電子染色

• その他

  • AI解析・シミュレーション
  • ナノシミュレーション

• 課題・目的から探す

  • 解決したい課題はあるけれど、
    手法が分からない方

    分析目的から探す

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    不純物特定、劣化原因調査、品質確認、他社製品調査など、目的に合わせて最適な分析プランを設計します。
    ただ分析を実施するだけでなく、課題解決まで提案いたします。

    

  • 対象にふさわしい
    分析手法を知りたい方

    分析対象から探す

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    材料・製品・サンプルを起点に、MSTなら多様な分野に対応可能です。研究開発から生産に至る各フェーズにおいて、それぞれの課題に応じた最適な手法を提案いたします。

    

  • 使いたい装置・
    手法が決まっている方

    分析手法から探す

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    SEM、TEM、SIMS、LC/MS、GC/MSなど、MSTは多様な分析手法を取り揃えています。豊富な選択肢の中から、テーマに最適な分析条件を提案いたします。