SAXS:Small Angle X-ray Scattering
NanoTerasu・BL08W
あいちシンクロトロン光センター・BL8S3
特徴
SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ＜10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm～数十nm程度の大きさの構造を評価できます。
放射光施設を利用した測定となります。サンプルの前処理（試料調製、測定用チューブへの注入等）も MSTで対応します。
- ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能
- タンパク質など生体材料の評価が可能
- 微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能
- サンプルの冷却・加熱した状態での評価が可能
適用例
- 高分子材料の結晶性・配向性評価
- 高分子のドメインサイズ評価
- 液晶試料の高次構造・ミクロ相分離構造解析
- ナノ粒子の粒径解析
原理
周期構造による散乱
周期構造による散乱では、(1)のようなプロファイルが得られます。構造単位の周期性がピークとして現れます。低角領域の散乱X線を見ることで、数nm～数十nm程度の分子レベルの周期構造まで測定することができます。
粒子内部における散乱
粒子内部における散乱では、(2)のようなプロファイルが得られます。プロファイルの傾きは粒子（空孔）の大きさを反映しており、形状は粒子の形状や粒径分布を反映します。
広角に散乱されたX線⇒Åオーダーの結晶の面間隔・歪み・配向性を評価
低角に散乱されたX線⇒ナノオーダーの分子の周期性・配向性を評価
データ例
配向性評価： PTFEテープの延伸による配向性評価
構造評価： 乳化剤の液晶構造評価
データ形式
- スペクトル・解析データ等
仕様
| 搬入可能試料サイズ | 5 mm×5 mm ～ 60 mm×60 mm 程度まで、厚み（測定箇所は1 mm 程度まで） |
| 測定領域 | 1mmφ程度(光学系による) |
| 試料必要量 | 粉体の場合 数g程度 液体の場合 数mL 程度 |
| 測定可能な周期長および粒径 | 1 ～ 100 nm 程度（測定方法・光学系による） |
必要情報
- 分析目的
- 試料情報
- （1）試料数
- （2）試料形状、構造、厚み、組成
- （3）切断可否
- （4）注意事項
- 試料のSDS（放射光施設に提出します）
- ご希望納期
注意点
- 空孔測定の場合は空孔が無い参照サンプルをご準備ください。
- 基板上に成膜されたサンプルの場合は基板のみを参照サンプルとしてご準備ください。
- 溶液試料の場合は溶媒を参照サンプルとしてご準備ください。
- 放射光施設での測定となるため、ご発注後（施設予約後）はキャンセル不可となります。