特徴
・試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能
・試料温度基準で最大15℃/minの温度勾配制御が可能
・JESD22-A104E、IEC60749-25の規格試験に対応
・試料温度ランプレート15℃/分以下（-40～125℃）の規格試験を、正確に行うことが可能
適用例
・自動車規格試験
・半導体パッケージや半導体デバイスの信頼性評価
・はんだ接合部の寿命評価
仕様
槽内寸 ：W800mm×H500mm×D400mm
温度範囲 ：-70℃～180℃ ※温度勾配を制御可能な範囲は別途お問い合わせ下さい
耐荷重 ：試料カゴあたり5kg以下かつ、試料総重量25kg以下
料金
試験条件により変動します。別途ご相談ください。
速報納期
都度ご相談ください。
必要情報
- 目的/測定内容（試験温度、勾配条件など）
- 試料情報
(1)数量・形状・サイズ・重量・材質
(2)取り扱い注意事項 - 納期
(1)ご希望の速報納期
(2)注意事項 - その他の留意点
注意点
・本手法は、再委託によるサービスとなります。
・温度プロファイルはCSV形式でのデータ提出が可能です。
・試験途中での評価（外観撮影、測定など）をご希望の際はご相談ください。