分析の
お問い合わせ

酸化物半導体

金属酸化物の中には半導体特性を示すものがあり、TFTやパワーデバイス、センサー等への応用を目指して研究が進んでいます。
酸化物半導体の分析例を以下に示します。

評価項目部位分析手法
形状・構造解析実製品SEMTEM
バルク・薄膜XAFS
結晶構造解析実製品TEMEDEBSD
バルク・薄膜XRD
不純物濃度分析実製品SIMS
主成分濃度分析実製品AESXPSTEMTEM-EDX
バルク・薄膜ICP-MS
活性層形状評価実製品SCMSSRM
仕事関数評価バルク・薄膜UPS

Consultation

分析のご相談・
お申し込み

経験豊富な営業担当が、
最適な分析プランを提案します。
分析費用のお見積もりも
お気軽にお問い合わせください。
ご相談・お申し込みは、専用フォーム
またはお電話にて承ります。

03-3749-2525