結晶のひずみを知りたい

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

射光と分子との相互作用の結果、入射光の振動数が変化するという光散乱現象（ラマン効果）を利用し、分子中の構造についての情報を得る手法です。

電子線回折を利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。
電子線回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。

電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。